一、控制性探孔和一般性探孔的区别
1、布设目的不同
(1)控制性勘探点:为控制场地地层结构,满足场地、地基基础和基坑工程的稳定性、变形评价。
(2)一般性勘探点:为查明地基主要受力层性质,满足主要受力层地基承载力评价。
2、布设数量不同
(1)控制性勘探点:高层建筑群控制性勘探点数量不应少于探勘点总数的1/2。
(2)一般性勘探点:与之相对,高层建筑群一般性勘探点数量不多于探勘点总数的1/2。
3、布设深度不同
(1)控制性勘探点:除了满足一般性钻探孔深度要求,还应该满足:沉降计算、结构验算、整体稳定验算等要求,所以深度要大于一般性勘探点。
(2)一般性勘探点:只需要适当大于主要受力层深度即可。
二、控制性探孔的概念
控制性勘探点(探孔):为控制场地地层结构,满足场地、地基基础和基坑工程的稳定性、变形评价等评价要求布设的勘探点。
中国 | 建筑施工
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