[提问]地基勘察中,控制性探孔与一般性探孔区别

发表于2020-05-19     262人浏览     2人跟帖     总热度:10  

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 发表于2020-05-19   |  只看该作者      

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一、控制性探孔和一般性探孔的区别

1、布设目的不同

(1)控制性勘探点:为控制场地地层结构,满足场地、地基基础和基坑工程的稳定性、变形评价。

(2)一般性勘探点:为查明地基主要受力层性质,满足主要受力层地基承载力评价。

2、布设数量不同

(1)控制性勘探点:高层建筑群控制性勘探点数量不应少于探勘点总数的1/2。

(2)一般性勘探点:与之相对,高层建筑群一般性勘探点数量不多于探勘点总数的1/2。

3、布设深度不同

(1)控制性勘探点:除了满足一般性钻探孔深度要求,还应该满足:沉降计算、结构验算、整体稳定验算等要求,所以深度要大于一般性勘探点。

(2)一般性勘探点:只需要适当大于主要受力层深度即可。

二、控制性探孔的概念

控制性勘探点(探孔):为控制场地地层结构,满足场地、地基基础和基坑工程的稳定性、变形评价等评价要求布设的勘探点。

地基勘察中,控制性探孔与一般性探孔区别_1


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